財団法人 高輝度光科学研究センター(理事長 吉良爽)と独立行政法人 物質・材料研究機構
(理事長 岸 輝雄)は共同で、ダイオード型カドミウムテルライド(CdTe)半導体X線検出器1,2)の
高速検出化の障害となっている「分極現象」3)の原因を世界で初めて明らかにしました。
これにより、マイクロ秒(100万分の1秒)計測が可能な従来のゲルマニウム半導体検出器の性能を
大きく超えた、ナノ秒(10億分の1秒)計測が可能な高エネルギーX線用半導体検出器の製作に
目処がつきました。同検出器の実現により、20keV以上の高エネルギーX線を利用したナノ秒領域の
計測が現実のものとなります。本研究の成果より、高エネルギーX線を利用するSPring-8での実験や
医療分野での高エネルギーX線利用(レントゲン)においてナノ秒計測が実現し、本検出器を
用いることでX線によるナノ秒の世界の可視化が可能になります。さらに、同検出器は室温で
動作するため、ゲルマニウム半導体検出器のように低温に冷却する必要は無く、医療、宇宙、産業、
安全などの幅広い分野におけるX線利用において、次世代X線計測システムのコンパクト化が
より進みます。
本研究では、電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)とエネルギー分散型X線分析装置(EDX)4)による
観察とアルファ線5)を用いた実験により、「分極現象」の原因が電極・界面構造の形状・元素分布に
大きく起因していること、またカドミウムテルライド半導体内部に束縛された電子やホールの動き6)に
起因していることを明らかにしました。これらの実験結果から、「分極現象」のない検出器を作るための
電極形状の設計とカドミウムテルライド半導体の材料設計の指針が明らかになり、
高エネルギーX線用のナノ秒検出器の実現に道が開かれました。
本成果は、財団法人 高輝度光科学研究センター 岡田京子(研究員)、櫻井吉晴(副主席研究員)、
独立行政法人 物質・材料研究機構 安福秀幸(特別研究員)、吉川英樹(主幹研究員)、の共同で
得られたもので、米国の科学雑誌Applied Physics Letters(2008年2月4日の週)に掲載されます。
(画像等の詳細はソースを御参照下さい)
ソース:独立行政法人物質・材料研究機構
http://www.nims.go.jp/jpn/news/press/press218.html http://www.nims.go.jp/jpn/news/press/pdf/press218.pdf そうそう、このケーキ、とってもステキよ。
とっても美味しくてしっとりなの。
私、「科学」する時いっぱい喋りますね。
そう考えたら、私あなたじゃなくてよかったって思います。
実験しなくちゃいけない実験はあるし、研究しなくちゃいけない研究もある。
まだ生きている人を使って、ですよ。
PS:信じてよ、まだ生きているのよ。
PPS:「科学」してるし、まだ生きているわ。
PPPS:とってもステキな気分だし、まだ生きています。
しめくくり:あなたの死亡時にも私は生存しています。
しめくくりの追伸:あなたが死んでも、わたしは生きています。
生きてる、生きてる、生きてる・・・。
still alive ライブ
http://www.nicovideo.jp/watch/sm1554900