半導体製造装置/材料に関する業界団体SEMIと米国電気電子学会(IEEE)は、ナノテクノロジ
およびマイクロマシン(MEMS)分野の標準策定活動で連携するため了解覚書に署名した。
(中略)
IEEE内で標準策定を担当するIEEE Standards Association(IEEE-SA)は、ナノテクノロジ
標準を検討する作業を進めており、2005年にカーボン・ナノチューブ向け計測標準規格の発行を
予定している。SEMIのMEMS Initiativeも同様の活動を行っている。
SEMIとの合意について、IEEE-SAマネージング・ディレクタのJudith Gorman氏は「電子デバ
イスの性能を向上させるナノテクノロジやMEMS、そのほかの新分野において、SEMIと我々が取り
組んでいる標準規格の開発活動を大いに推進してくれるだろう」と説明する。「対象となりうる
分野には、有機/分子/カーボン・ナノチューブ/シリコン・ナノファイバを使った電子デバイス
がある。この了解覚書は、長期的な協力関係の第1歩であり、両団体の専門的な知識を相互補完する
ことで会員および業界全体のメリットになる」(同氏)
http://nikkeibp.jp/wcs/leaf/CID/onair/jp/elec/312238