【電子工学、光工学】質問スレッド＿�T

>>675-676

FITという用語自体がLSIチップ原料からの放射線による誤作動を表すのに
特化した単位であって、外部からのバックグラウンド放射線の場合は場所
や建物やパソコンの筐体やLSIチップの配置等によって大幅に違うはず
だから個別のLSIチップ単位での誤作動の数値も大幅に異なるはずだからです。
つまり、LSI原料による内部からの放射線のみの影響の場合には外部環境に
無関係に誤作動の確率は一定なのでFITという個々の半導体デバイス単位での
数値が妥当しますが、外部からのバックグラウンド放射線の場合には不適当な
単位なんじゃないでしょうか？

http://homepage2.nifty.com/ClubTheOpen/ComputerMain.htm
>FIT (Failures In Time :　１FITは１個のデバイス当たり１０９時間
>（約１０万年）に1回の割合でエラーが発生することを示す）

>>679

コピペしたら１０の９乗時間が１０９時間になってしまってましたので訂正
しときます。

http://homepage2.nifty.com/ClubTheOpen/ComputerMain.htm
>FIT (Failures In Time :　１FITは１個のデバイス当たり１０^9時間
>（約１０万年）に1回の割合でエラーが発生することを示す）

>>675-676 >>679-680

あのＨＰに掲示板があるのを発見しましたのでＨＰオーナー御本人に
質問しときました。
そういう事で質問は取り下げます。すみませんでした。